日本DENSOKU電渦流膜厚度計D-20

日本DENSOKU電渦流膜厚度計D-20

小巧便攜
薄膜厚度計，可以滿足短時間測量的時代需求

·重量輕，結構緊湊，重量為2.0kg
·一旦開關打開，測量就開始，測量時間在1秒之內。
·晶體振蕩法具有高穩定性（±1％）和高精度
·非破壞性，100％檢查是可能的
·由于直接閱讀，無需轉換

渦流膜厚度計D-20的特點
輕巧緊湊

你可以攜帶它。

可立即測量

可以在開關打開的同時進行測量。測量時間也在1秒內。

高穩定性（±1％）高精度

通過晶體振蕩方法具有高穩定性（±1％）和高精度。

可以100％檢查

100％檢查是可能的，因為它是非破壞性的。

無需轉換

不需要直接轉換。

兼容各種測量

可以在金屬上測量薄膜，電鍍，涂漆，樹脂等（例如：在鋁上鍍氧化膜，在鐵上鍍鋅等）。

成為的測量儀器

只需更換刻度盤，它就成了的測量儀器。

測量面積3m2以上

兼容3m2或更大的測量區域。

還測量非金屬上的金屬膜

可以測量非金屬上的金屬薄膜（例如塑料上的鍍層）。

即使在曲面，球體和管道內也可以進行測量

即使對于彎曲和球形表面也可以進行測量。它還可以測量管道的內表面（φ12.7mm或更大）。

測定原理

當已經通過高頻電流的探針（測量線圈）接近金屬時，在金屬表面層中產生渦電流。 該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的導電性，厚度和形狀的影響，并且穿透深度和尺寸變化。
渦電流流動以抵消探頭的高頻磁場，因此探頭的高頻電阻發生變化。 這種高頻電阻的變化被放大并顯示在儀表上。 通過這樣做，可以從儀表的波動中讀取膜厚度值。 薄膜厚度值和儀表跳動通常不成比例，因此使用直讀刻度板直接讀取薄膜厚度值。

日本DENSOKU渦流膜厚度計DS-110

晶體振蕩精度高
可以在短的測量時間內測量曲面和球面

·測量值顯示數字且易于閱讀
·一旦開關打開，測量就開始，測量時間在1秒之內。
·晶體振蕩法具有高穩定性（±1％）和高精度
·非破壞性，100％檢查是可能的
·由于直接閱讀，無需轉換

渦流膜厚度計DS-110的特點
易于閱讀數字

測量值顯示是數字的，易于閱讀。

可立即測量

可以在開關打開的同時進行測量。測量時間也在1秒內。

高穩定性（±1％）高精度

通過晶體振蕩方法具有高穩定性（±1％）和高精度。

可以100％檢查

100％檢查是可能的，因為它是非破壞性的。

無需轉換

不需要直接轉換。

兼容各種測量

可以測量金屬上的薄膜，電鍍，涂層，樹脂等。 （例如：在鋁上鍍鋅，在鐵上鍍鋅等）

多可保存1000個數據

可以使用一條檢測線保存1000個數據。

還測量非金屬上的金屬膜

可以測量非金屬上的金屬薄膜（例如塑料上的鍍層）。

可以測量4種標準和多70種薄膜厚度。

通過切換開關，可以測量多達4種類型的薄膜厚度。此外，通過更換制造商處的檢查線，可以測量超過70種類型的膜厚度。

即使在曲面，球體和管道內也可以進行測量

即使對于彎曲和球形表面也可以進行測量。它還可以測量管道的內表面（φ12.7mm或更大）。

打印輸出功能

打印出測量數據和統計處理值

測定原理

當已經通過高頻電流的探針（測量線圈）接近金屬時，在金屬表面層中產生渦電流。 該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的導電性，厚度和形狀的影響，并且穿透深度和尺寸變化。
渦電流流動以抵消探頭的高頻磁場，因此探頭的高頻電阻發生變化。 高頻電阻值的這種變化被放大，曲線校正，并顯示為數字值。 因此，膜厚度值可以直接讀取為數字。 通過微計算機計算執行曲線校正。 因此，它非常準確且高度穩定

日本DENSOKU渦流膜厚度計DMC-211

高速和可操作性
短時非破壞性測量是100％檢測的理想選擇

·1秒內無損測量，100％檢測*
·使用個人計算機輕松校準和測量操作
·只需將探頭放在物體上并釋放它，即可自動捕獲測量值
-70特性曲線（校準曲線）作為標準
·為每個渠道注冊公司名稱，部件號和批號。

渦流膜厚度計DMC-211的特點
數字顯示測量值，讀數

幾乎所有金屬薄膜（鋁上的氧化膜，鐵上的鋅/鉻鍍層等），非金屬上的大多數金屬薄膜（塑料上的電鍍等）在短時間內（1秒內）無損測量，非常適合100％檢測。

使用PC輕松操作

通過使用個人計算機進行校準和測量等簡單操作。可以選擇各種測量模式，便于測量螺釘頭，線材和壓鑄產品等小零件。

配備[自動導入]模式

在[自動采集]模式下，只需將探頭放在待測物體上并松開即可自動獲取測量值。

豐富的特征曲線記憶（校準曲線）

70個自動選擇特性曲線（校準曲線）作為標準存儲。對于特殊材料，如果有標準板，則可以創建并輸入新的特征曲線（校準曲線）。

公司信息渠道注冊功能

可以為每個渠道注冊公司名稱，部件號和批號。
總頻道：40個頻道

配備統計處理功能

可以為每個通道保存測量數據，并且可以在以后統計設置和統計統計項目。

計量單位

測量單位是mm，μm，mil，MI。
可以隨時更改設備，并自動轉換測量值。

測定原理

當已經通過高頻電流的探針（測量線圈）接近金屬時，在金屬表面層中產生渦電流。 該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的導電性，厚度和形狀的影響，并且穿透深度和尺寸變化。渦電流流動以抵消探頭的高頻磁場，因此探頭的高頻電阻發生變化。 這種高頻電阻變化的幅度通常與薄膜厚度值不成比例，因此它會根據內部或用戶創建的特性曲線（校準曲線）轉換為薄膜厚度值并顯示在PC屏幕上。顯示量。